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超低溫高低溫試驗箱技術(shù)參數(shù)

日期：2025-04-18 07:37

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摘要：一、超低溫高低溫試驗箱用途：高低溫試驗箱應用于國防工業(yè),航天工業(yè).自動化零組件,汽車部件,電子電器零組件, 儀器儀表、材料、塑膠,化工,食品,制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱. 耐濕. 耐寒.耐干性能及品質(zhì)管理工程之試驗規(guī)范，對試品在給定的環(huán)境條件下檢測產(chǎn)品本身的適應能力與特性是否改變作出評價。二、高低溫試驗箱滿足標準： GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程（試驗A低溫試驗方法）》 GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程（試驗B高溫試驗方法）》 GJB150.3-86《**設(shè)備環(huán)境試驗方...

一、超低溫高低溫試驗箱用途：
高低溫試驗箱應用于國防工業(yè),航天工業(yè).自動化零組件,汽車部件,電子電器零組件, 儀器儀表、材料、塑膠,化工,食品,制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱. 耐濕. 耐寒.耐干性能及品質(zhì)管理工程之試驗規(guī)范，對試品在給定的環(huán)境條件下檢測產(chǎn)品本身的適應能力與特性是否改變作出評價。

二、高低溫試驗箱滿足標準：

GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程（試驗A低溫試驗方法）》
GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程（試驗B高溫試驗方法）》
GJB150.3-86《**設(shè)備環(huán)境試驗方法（高溫試驗）》
GJB150.4-86《**設(shè)備環(huán)境試驗方法（低溫試驗）》
測試方法 GB/T5170.2-2008電子產(chǎn)品環(huán)境試驗參數(shù)檢定方法（溫度試驗設(shè)備）

三、高低溫試驗箱技術(shù)參數(shù)：

工作室尺寸 700 ×700×100mm（D深×W寬×H高，容積490L）
外形尺寸（約） 1350×1250×2000mm（D深×W寬×H高）
溫度范圍溫度:-130～+100℃
-75～+100℃采用機械壓縮制冷
-130～－75℃采用液氮制冷
溫度波動度 ≤±0.5℃（溫度恒定時測試）
溫度偏差 ≤±2℃（溫度恒定時測試）
升溫速率 20℃～+100℃非線性空載升溫0.1～3℃/min可任意設(shè)定
降溫速率 20℃～－130℃非線性空載降溫0.1～1.2℃/min可任意設(shè)定
噪聲 ≤70dB（制冷機組機箱外1.5米）
測試方法 GB/T5170.2-2008電子產(chǎn)品環(huán)境試驗參數(shù)檢定方法（溫度試驗設(shè)備）
電源 AC 380V±10%、50 Hz、三相四線＋接地線
安裝功率約7.5Kw。
污染、磁輻射符合相關(guān)標準要求
冷卻方式風冷
以上產(chǎn)品運行技術(shù)數(shù)據(jù)均是在室溫20±5℃,相對濕度≤85%R.H，試驗箱空載條件下，溫度恒定兩小時后測得。

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